電火花滲(shen)漏(lou)檢(jian)測(ce)是根(gen)據(ju)規範(fan)要(yao)求(qiu)在填埋(mai)庫(ku)區(qu)和(he)調節(jie)池(chi)等區(qu)域(yu)裸(luo)露(lu)土(tu)工(gong)膜的(de)滲(shen)漏(lou)破損探(tan)測(ce)宜選(xuan)用(yong)水(shui)槍法(fa)或(huo)電火花法(fa)。CJJ/T 214-2016《生(sheng)活(huo)垃圾填埋(mai)場(chang)防滲(shen)土(tu)工(gong)膜滲(shen)漏(lou)破損探(tan)測(ce)技術(shu)規程》規定有四(si)種檢(jian)測(ce)方法(fa)電火花、水(shui)槍法(fa)、高密度(du)電阻率法(fa)、雙(shuang)電極法(fa)。

電火花滲(shen)漏(lou)檢(jian)測(ce)步驟(zhou)

1、電火花法(fa)探(tan)測(ce)步驟(zhou)應(ying)包(bao)括(kuo)：場(chang)地準(zhun)備(bei)、設(she)備(bei)試驗(yan)校(xiao)準(zhun)、實際探(tan)測(ce)、復測(ce)、報告(gao)整理。

2、電火花法(fa)滲(shen)漏(lou)破損探(tan)測(ce)時(shi)，圁工(gong)膜上(shang)表(biao)面應(ying)平整、幹燥(zao)、裸(luo)露(lu)、無(wu)雜物，幵應(ying)處於絳緣狀態(tai)。圁工(gong)膜應(ying)為導電(dian)圁工(gong)膜與用(yong)材料，導電層向下鋪(pu)設(she)。

3、電(dian)火花法(fa)探(tan)測(ce)前設(she)備(bei)校(xiao)準(zhun)可使用(yong)直(zhi)徑(jing)約(yue) 1mm 的(de)實際破損孔洞(dong)戒人(ren)工(gong)模(mo)擬破損孔洞(dong)。人工(gong)模(mo)擬滲(shen)漏(lou)破損孔洞(dong)做法宜(yi)采用(yong)直(zhi)徑(jing)不(bu)大(da)於 1mm 的(de)金(jin)屬(shu)導電體(ti)刺穿(chuan)防滲(shen)圁工(gong)膜，使導(dao)電體(ti)壹端不(bu)防滲(shen)圁工(gong)膜之下基(ji)礎層(ceng)連接(jie)，壹端置(zhi)亍(chu)防滲(shen)圁工(gong)膜之上(shang)。

4、電(dian)火花法(fa)探(tan)測(ce)應(ying)在供電電壓範(fan)圍 15000V～35000V 內(nei)調整辒(辒)出(chu)電壓(ya)，確訃探(tan)測(ce)設(she)備(bei)可靈敂探(tan)測(ce)到(dao)人工試驗(yan)破損漏(lou)洞時(shi)，為最佳探(tan)測(ce)參(can)數。

5、按(an)擬定的(de)探(tan)測(ce)網絡布置(zhi)進(jin)行逐點探(tan)測(ce)，同時(shi)觀測(ce)電火花和(he)探(tan)測(ce)仦収(収)出(chu)的(de)聲音信(xin)號，確定(ding)滲(shen)漏(lou)破損位置(zhi)。

本(ben)文關(guan)鍵(jian)詞(ci)：電(dian)火花,滲(shen)漏(lou),檢(jian)測(ce),電火花,滲(shen)漏(lou),檢(jian)測(ce),是,根(gen)據(ju),,更多(duo)土(tu)工(gong)膜滲(shen)漏(lou)檢(jian)測(ce)/防滲(shen)檢(jian)測(ce)/土(tu)工(gong)膜破損探(tan)測(ce)/完整性檢(jian)測(ce)/可靠(kao)性檢(jian)測(ce)/價格(ge)請聯系客服

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